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来源：科研汇收集编辑：研康
背景介绍
今天带给大家的是如何对晶粒进行分析统计，所用的软件是Nano Measurer和Origin 9.0，并附软件简单的安装及使用教程，希望对大家有所帮助！
文末有软件下载地址！
软件安装
01
解压安装包，运行Nano Measurer
02
选择安装语言
03
一直点击下一步安装
04
直到整个软件安装完成
使用教程
01
运行Nano Measurer 1.2软件，打开需要统计的SEM图片（Jpg格式），首先设置标尺，如图
02
在对颗粒进行标记统计，至少需要50个数据及以上
03
然后点击报告，将数据生成txt文件，保存在桌面以方便查找
04
打开Origin作图软件，将txt数据复制到Origin中，注意，只要数值
05
选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Frequency Counts/Open Dialog
06
点击OK
07
选中Count(Y)，使数据生成柱状图（Column）
08
对柱状图进行正态分布拟合：
点击菜单栏Analysis/Fitting/Nonlinear Curve Fit/Open Dialog
09
点击Function 的对话框的下三角标，选中Gauss
10
再点击Fit进行拟合，得到如图
11
再对原始数据进行求取平均值和标准差
12
选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Statistics on Columns/Open Dialog
13
点击OK，得到平均值和标准差
14
对图像进行处理，即可得到我们想要的图像
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