近期，深圳市通用测试系统有限公司（以下简称：通用测试）成功交付了一套全新自主研发的电磁干扰源定位、诊断和分析的EMI测试系统。在产品研发过程中，通用测试充分考量到客户未来的设备集成化、电磁环境的复杂性以及业务扩展等现实问题，最终在硬件系统和测试方法上实现了平面近远场变换。
通用测试EMI测试系统在硬件和软件上有诸多创新，突出亮点有:
通过EMI系统提供的测试平台和操作软件，可实现指定频率电磁干扰噪声源自动扫描和定位，给用户提供更多噪声源信息，以便进行相应的电磁干扰诊断和抑制。
EMI系统支持两种噪声源定位方法：近场扫描和远场ESM扫描，其原理如图所示。
近场扫描示意图
远场扫描示意图
近场扫描通过安装在机械臂的探头进行扫描，使用频谱仪（SA）或矢量网络分析仪（VNA）可获得扫描平面上被测件辐射场的幅度信息。远场ESM扫描额外增加一个参考探头，使用VNA来获取扫描平面上场的幅值和相位。远场ESM扫描可将扫描平面上的辐射场变换到近场高度，从而对远场辐射源进行有效定位。
远场Hy扫描面幅度与相位
远场转近场Hy扫描面幅度与相位
通用测试EMI系统设计紧凑，尺寸小巧，易于移动，可以放置在办公室、实验室或者其他小空间场所，极大方便了硬件工程师的调试和验证工作。通用测试EMI测试软件简单易用，稳定流畅，展示、分析功能全面，进一步提升系统测试效率。
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